Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales

Autores/as

  • Aitor Larrañaga Varga SGIker, Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU) https://orcid.org/0000-0002-2123-6069

    Aitor es Dr. en Ciencia de Materiales y es el responsable del servicio de difracción de rayos X en muestra policristalina del Servicio General de Investigación (SGIker) de la Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Univertsitatea (UPV/EHU), en Leioa, España. Cuenta con más de 20 años de experiencia en difracción y ha publicado más de 100 artículos en revistas internacionales. 

    https://www.ehu.eus/es/web/sgiker/x-izpiak-molekulak-eta-materialak-kontaktua

Palabras clave:

Ciencia materiales, difracción de rayos X, textura, estrés, tensión

Resumen

La cristalografía de rayos X resulta una técnica analítica fundamental para el estudio exhaustivo de la estructura cristalina de los materiales. A pesar de su enorme relevancia tanto a nivel científico como industrial, su cobertura respecto a análisis avanzados ha sido insuficiente hasta ahora. Por lo tanto, en este trabajo mostramos diferentes posibilidades de la difracción de rayos X, muy útil para obtener en algunos casos información crítica de nuestros materiales.

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Publicado

2020-09-14

Cómo citar

Larrañaga Varga, A. (2020). Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales. Revista De Química, 34(1-2), 15–21. Recuperado a partir de https://revistas.pucp.edu.pe/index.php/quimica/article/view/22686

Número

Vol. 34 Núm. 1-2 (2020)

Sección

Artículos

Licencia

Derechos de autor 2020 Revista de Química

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